靜電放電電磁兼容測(cè)試，就選GBT17626.2-2018 

GB/T17626.2-2018，IEC 61000-4-2：2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》 是靜電放電抗擾度試驗(yàn)的基礎(chǔ)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，適用于所有的電工電子產(chǎn)品。

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北京電磁兼容檢測(cè)中心，提供本標(biāo)準(zhǔn)的靜電放電抗擾度試驗(yàn)，出具蓋有CNAS和CMA章的電磁兼容報(bào)告。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)方法

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特色:CNAS認(rèn)可價(jià)格:1鍵在線報(bào)價(jià)名稱(chēng):電磁兼容測(cè)試詳情:全行業(yè)覆蓋。

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靜電放電的起因有多種，但GB/T17626.2-2018主要描述在低濕度情況下，通過(guò)摩擦等因素，使人體積累了電荷。當(dāng)帶有電荷的人與設(shè)備接觸時(shí)，就可能產(chǎn)生靜電放電。

靜電放電抗擾度試驗(yàn)最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2018， 等同于IEC 61000-4-2：2008。

試驗(yàn)?zāi)康模?

試驗(yàn)單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：

（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電。

（2）人或物體對(duì)鄰近物體的放電。

靜電放電可能產(chǎn)生的如下后果：

（1）直接通過(guò)能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。

（2）放電所引起的電場(chǎng)與磁場(chǎng)變化，造成設(shè)備的誤動(dòng)作。

放電方式 ：

直接放電（直接對(duì)設(shè)備的放電）：接觸放電為首選形式；只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層，計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)縫隙等情況）才改用氣隙放電。

間接放電：水平耦合，垂直耦合